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号外_2023/04/18 【九州限定ご案内】最新の半導体分析技術をご紹介します(ウェビナー/近接場分光顕微鏡)

 

             ~今年50周年~  2023年4月18日【号外】  

■■■■■■■■■   九州計測器 ニュースレター ■■■■■■■■■              

   

今回ご案内するのは、弊社と日本カンタム・デザイン社殿との共催で開く、

最新の半導体分析技術をご紹介するウェビナー情報です。

 このウェビナーは、弊社九州地区のみご案内しております、受託分析も

承りますので、是非この機会にご参加お願い致します。

 

       『-最新半導体分析技術紹介ウェビナー』

 

         -近接場分光顕微鏡neaSCOPE- 

 

10nm分解能での分光スペクトル&イメージング!

近接場分光顕微鏡 neaSCOPEによる10nm分解能の分光技術を紹介致します。

 

※neaSCOPEは、「フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR)」と

「原子間力顕微鏡(AFM)」を融合した装置です。

 

【内  容】  装置紹介/オンラインデモ/半導体測定事例、その他事例紹介

【スピーカー】日本カンタム・デザイン株式会社 花牟禮 慎也、石原あゆみ

【日  時】   2023年 5月 15日(月) 16:15 - 17:00

【開  催】   Zoom webinar:(無料)

 

▼申し込み方法(下記ZOOM URLより登録をお願いいたします)

https://us06web.zoom.us/webinar/register/WN_HGj-BRDfQ2uWuW8iHy9e2g

 

▼案内チラシ

https://www.qk-net.co.jp/pdf/qd1.pdf

 

■アプリケーション

・GaAs(ガリウムヒ素)nano bar測定

・亜酸化銅の赤外イメージング

・SRAMデバイスのIR/テラヘルツ測定

・その他、電池デバイスなどの分析

 

・高分子やバイオ材料の高分解イメージング等も、アプリ

ケーションとしてございます、観察分析としてFT-IR、AFM

や電子顕微鏡をお使いのお客様、是非ご参加お願い致します。

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